电芯测试并非单一的检测流程，而是一套覆盖 “性能、安全、环境、寿命” 的完整体系，每种测试方法都有其独特的技术逻辑和应用场景。
电芯测试研发经常会遇到的场景是：
1. 失效原因复杂，涉及多领域知识，初期易无头绪；
2. 分析方法（如超声、SEM、EIS等）和数据解读分散，整合耗时；
3. 很多技巧依赖经验，缺乏标准化传递，新人易重复踩坑。
针对电芯常见异常，可通过 无损分析手段（如CT、超声波检测等）初步定位问题；辅以 破坏性分析方法（电镜、ICP、同步热分析等）深入探究根源；同时结合循环伏安法、EIS、DQ/DV、三电极、XPS等 电化学与表面表征技术，再配上实际案例，就能为电芯失效分析提供清晰的方法指引，提升分析效率。
电芯常见异常原因总结
电芯异常排查步骤
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常见电芯检测表征手段（附文献 DOI）
电池可逆容量衰减
可逆容量衰减的三类常见行为及成因
一、正常循环衰减
材料结构变化：正极材料出现晶格畸变，负极石墨层间结构发生改变
SEI膜过度生长：既消耗活性锂，又会增加界面阻抗
析锂：锂离子在负极表面不均匀沉积，形成金属锂枝晶，导致活性锂损失
材料结构变化：正极材料出现晶格畸变，负极石墨层间结构发生改变
SEI膜过度生长：既消耗活性锂，又会增加界面阻抗
析锂：锂离子在负极表面不均匀沉积，形成金属锂枝晶，导致活性锂损失
二、循环容量跳水
过渡金属溶出：如正极中的Ni、Co等金属离子溶解，破坏材料结构与电化学活性
锂枝晶生长：枝晶可能刺穿隔膜引发内短路风险，同时消耗活性锂
SEI膜过度生长
内短路：电芯内部正负极直接接触，造成容量快速损失
电解液失效：电解液分解、浓度降低，影响离子传输效率
粘结剂失效：极片活性物质脱落，导致导电网络被破坏
过渡金属溶出：如正极中的Ni、Co等金属离子溶解，破坏材料结构与电化学活性
锂枝晶生长：枝晶可能刺穿隔膜引发内短路风险，同时消耗活性锂
SEI膜过度生长
内短路：电芯内部正负极直接接触，造成容量快速损失
电解液失效：电解液分解、浓度降低，影响离子传输效率
粘结剂失效：极片活性物质脱落，导致导电网络被破坏
三、存储容量衰减
漏液：电解液泄漏导致离子传输介质减少
自放电：电芯内部发生副反应，消耗活性物质
内短路
过渡金属溶出
析锂
漏液：电解液泄漏导致离子传输介质减少
自放电：电芯内部发生副反应，消耗活性物质
内短路
过渡金属溶出
析锂
电池容量衰减排查分析
在面对电芯常见异常时，需遵循系统的分析流程。首先通过 外观检查初步判断物理损伤；接着利用 无损检测手段，如剩余容量测试、EIS、CT、超声波测试等定位异常；最后开展 破坏性测试，借助三电极测试、电芯拆解、极片多手段分析（XRD、ICP、XPS 等）、隔膜与电解液分析，探究异常的根源。 各类表征方法各有侧重，相互配合，能更精准高效地完成电芯异常分析，为电芯的改进与优化提供有力支撑。
电池材料检测找科学指南针
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